เอ็มเทค ขอเชิญเข้าร่วมอบรมเชิงปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน

0
418
image_pdfimage_printPrint

picTEM_s

เทคนิคจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (Transmission Electron Microscopy : TEM) เป็นอีกเทคนิคหนึ่งที่มีความสำคัญในยุคของนาโนเทคโนโลยี ซึ่งสามารถทำให้เราเห็นรายละเอียดของวัสดุในระดับนาโนเมตร เพื่อนำมาวิเคราะห์และพัฒนาวัสดุต่างๆ ให้มีคุณสมบัติตามที่ต้องการ ดังนั้นห้องปฏิบัติการจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน ของศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ จึงมีความประสงค์ ให� �มีการอบรม ทั้งภาคทฤษฎีและภาคปฏิบัติ เพื่อเป็นการเผยแพร่และแลกเปลี่ยนความรู้ทางด้านจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่านให้แก่ ภาคการวิจัยของรัฐและภาคอุตสาหกรรม รวมทั้งผู้ที่มีความสนใจ เพื่อก่อให้เกิดการพัฒนาและก้าวหน้าของวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยีของประเทศไทย

วิทยากร 1. ดร. ชัญชณา ธนชยานนท์ ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 2. ดร. บราลี ชยสมบัติ ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 3. ศ.ดร.สุภาพรรณ เสราภิณ Department of Materials Science and Engineering The University of Arizona, Tucson, USA 4. น.ส. เพ็ญนภา มุทิตามงคล ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ 5. นาย วิศิษฏพงศ์ ยอดศรี ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ

ค่าลงทะเบียน หลักสูตรบรรยาย 1 วัน: วันที่ 8 มิถุนายน 2558 ค่าลงทะเบียน 3,000 บาท / ท่าน **รับสมัครจำนวน 20 ท่าน เท่านั้น** ราคาพิเศษ! สำหรับผู้ที่ชำระค่าลงเบียนก่อนวันที่ 20 พฤษภาคม 2558 ชำระในราคาเพียง 2,500 บาท/ท่าน

สมัครและสอบถามรายละเอียดเพิ่มเติมได้ที่ งานพัฒนากำลังคนด้านวัสดุศาสตร์ (จันทร์เพ็ญ ถนอมบุญ) ศูนย์เทคโนโลยีโลหะและวัสดุแห่งชาติ โทรศัพท์ 0 2564 6500 ต่อ 4678 โทรสาร 0 2564 6505 E-mail : chanpen.tha@mtec.or.th หรือดูรายละเอียดเพิ่มเติมและสมัครได้ที่ https://www.mtec.or.th/index.php/2013-05-29-09-04-36/2014-07-21-02-42-47/6721-2015-04-09-07-25-35